应用案例|高反光薄片检测难?这里有解决方案~
发布时间:2026-07-06
某产线需检测内部一枚银色铝制爆破片(厚度1-2mm)是否在位?
现场工位的苛刻条件,让这个检测变得异常棘手:
安装位置:传感器安装于设备顶部,垂直向下照射;
检测距离:爆破片位于传感器垂直下方120mm处;
光路限制:激光需通过一个直径仅5mm的小孔照射目标;
被测物特征:铝制爆破片表面光洁度极高,呈镜面反射特性。

解决方案
针对上述复合难题,合熠LC-S系列CMOS激光位移传感器凭借其高精度、小光斑与优异抗抖动性能,为实现稳定的检测提供了可靠方案。

方案优势
1、 小光斑设计,轻松穿过5mm小孔
LC-S系列激光位移传感器光束直径可达Φ50μm,远小于5mm的安装孔径。即使光路需要穿过狭小通道,也能确保光斑完整投射到目标物体上,完全不受孔边缘遮挡的影响。
2、 高精度测量
合熠激光位移传感器提供多种精度规格可选,重复精度可达10μm,远高于1-2mm的检测需求。
3、激光三角反射原理,从容应对高反光干扰
配合激光三角反射测量原理,能够有效抑制来自铝片表面及周围不锈钢机构的反射干扰,实现稳定、可靠的检测
4、多种输出方式,灵活对接控制系统
具备开关量单输出、开关量和模拟量双重输出、RS485通讯输出等功能,多种功能、多种检测模式,适用于更多应用场景
可延展应用场景
精密部件厚度/高度分选与判别: 如模具、五金件种类识别或到位检测。
大型卷材余量监控: 如新能源电池生产中卷绕机卷材直径或薄膜余量精确测量。
平板玻璃/晶圆平整度检测。
一枚小小的铝制爆破片,背后折射的是精密制造对检测精度的追求。LC-S系列CMOS激光位移传感器,凭借体积小、光点小、精度高等综合优势,为这一看似“刁钻”的检测需求提供了稳定的解决方案。
如果您也在产线中遇到类似的精密检测难题,合熠LC-S系列CMOS激光位移传感器或许是您一直在找的那个答案。
上一个
下一个
上一个
下一个
相关新闻